Expert system algorithms for identifying radiated emission problems in printed circuit boards

Hwan Shim*, Todd Hubing, T. Van Doren, R. DuBroff, J. Drewniak, D. Pommerenke, Robert Kaires

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftKonferenzartikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Expert system algorithms for identifying radiated emission problems in printed circuit boards“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Engineering