Experiencies and possibilities with a 200 kV monochromated (S)TEM

G. Kothleitner*, W. Grogger, F. Hofer

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)846-847
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang9
AusgabenummerSUPPL. 2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 4 Sep 2003

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