Excess volume and defect annealing in HPT- and ECAP-processed ultrafine-grained Ni studied by difference dilatometry

Roland Würschum, Jaromir Kotzurek, Anton Hohenwarter, M. Krystian, Wolfgang Sprengel, Reinhard Pippan

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

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