Evaluation of experimental stress-strain dependence in thermally cycled Al thin films on Si(100)

J. Keckes, M. Hafok, E. Eiper, A. Hofer, Roland Resel, C. Eisenmenger-Sittner

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)367-371
FachzeitschriftPowder diffraction
Jahrgang19
Ausgabenummer4
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004

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