Estimation of contour parameter uncertainties in permittivity imaging using MCMC sampling

Christian Schwarzl

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

    Originalspracheenglisch
    TitelSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop, 2008. SAM 2008. 5th IEEE
    Herausgeber (Verlag).
    Seiten446-450
    ISBN (Print)978-1-4244-2240-1
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
    VeranstaltungSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop - Darmstadt, Deutschland
    Dauer: 21 Juli 200823 Juli 2008

    Konferenz

    KonferenzSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop
    Land/GebietDeutschland
    OrtDarmstadt
    Zeitraum21/07/0823/07/08

    Treatment code (Nähere Zuordnung)

    • Application
    • Experimental

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