Estimation of contour parameter uncertainties in permittivity imaging using MCMC sampling

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop, 2008. SAM 2008. 5th IEEE
Herausgeber (Verlag).
Seiten446-450
ISBN (Print)978-1-4244-2240-1
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop - Darmstadt, Deutschland
Dauer: 21 Jul 200823 Jul 2008

Konferenz

KonferenzSensor Array and Multichannel Signal Processing Workshop
LandDeutschland
OrtDarmstadt
Zeitraum21/07/0823/07/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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