ESD Susceptibility Analysis: Coupling to Traces and Interconnect

Mehdi Gholizadeh, Seyed Mostafa Mousavi, David Pommerenke, Amin Pak, Gabriel Fellner, Jin Min

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

ESD susceptibility scanning is an effective method to find the causes of ESD soft failures in electronic systems. A local probe is used to scan the system for sensitive areas. However, the voltages induced by the probe are often unknown. This paper quantifies the induced voltages from different probes when injected into traces and flex cables, and compares the values to the induced voltages caused by an IEC 61000-4-2 ESD gun in contact mode. The goal is to guide the reader to select voltage levels and probes during susceptibility scans in a way that avoids levels that may be associated with ESD gun injection and cause failure.
Originalspracheenglisch
Titel2021 Joint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility Signal and Power Integrity, and EMC Europe, EMC/SI/PI/EMC Europe 2021
Herausgeber (Verlag)IEEE Publications
Seiten1018-1023
Seitenumfang6
ISBN (elektronisch)9781665448888
ISBN (Print)978-1-6654-4889-5
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 26 Juli 2021
Veranstaltung2021 Joint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility Signal and Power Integrity, and EMC Europe: EMC/SI/PI/EMC Europe 2021 - Raleigh, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 26 Juli 202120 Aug. 2021

Konferenz

Konferenz2021 Joint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility Signal and Power Integrity, and EMC Europe
KurztitelEMC/SI/PI/EMC Europe 2021
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtRaleigh
Zeitraum26/07/2120/08/21

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