ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Abstract

Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integrierten
Schaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierter
Qualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.
Originalsprachedeutsch
Titel15. EMV-Fachtagung
UntertitelOVE Schriftenreihe Nr. 87
Redakteure/-innenGunter Winkler
ErscheinungsortWien
Herausgeber (Verlag)Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Seiten21
Band87
ISBN (Print)3-85133-093-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 26 Apr 2017

Schlagwörter

  • ESD, Wunsch Bell Charakterisitk, EMV, transient disturbance

ASJC Scopus subject areas

  • !!Engineering(all)

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Dies zitieren

Schrey, P., Deutschmann, B., & Winkler, G. (2017). ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. in G. Winkler (Hrsg.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87 (Band 87, S. 21). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik.

ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. / Schrey, Patrick; Deutschmann, Bernd; Winkler, Gunter.

15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Hrsg. / Gunter Winkler. Band 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. S. 21.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Schrey, P, Deutschmann, B & Winkler, G 2017, ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. in G Winkler (Hrsg.), 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Bd. 87, Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Wien, S. 21.
Schrey P, Deutschmann B, Winkler G. ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. in Winkler G, Hrsg., 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Band 87. Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik. 2017. S. 21
Schrey, Patrick ; Deutschmann, Bernd ; Winkler, Gunter. / ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik. 15. EMV-Fachtagung: OVE Schriftenreihe Nr. 87. Hrsg. / Gunter Winkler. Band 87 Wien : Österreichischer Verband für Elektrotechnik, 2017. S. 21
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PY - 2017/4/26

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N2 - Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integriertenSchaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierterQualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.

AB - Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgrößen in integriertenSchaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen überprüfen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierterQualifikationstests. Die Testpulse für ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests für IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist für die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.

KW - ESD, Wunsch Bell Charakterisitk, EMV, transient disturbance

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

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BT - 15. EMV-Fachtagung

A2 - Winkler, Gunter

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