Enhancement of the DPI method for IC immunity characterization

Andrea Lavarda, Bernd Deutschmann, Dieter Haerle

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProc. of International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017)
Seiten178-183
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 6 Jul 2017

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  • Ingenieurwesen (insg.)

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