Enhancement of the DPI method for IC immunity characterization

Andrea Lavarda, Bernd Deutschmann, Dieter Haerle

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelProc. of International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017)
Seiten178-183
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 6 Jul 2017

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  • Information, Communication & Computing

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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Lavarda, A., Deutschmann, B., & Haerle, D. (2017). Enhancement of the DPI method for IC immunity characterization. in Proc. of International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2017) (S. 178-183) https://doi.org/10.1109/EMCCompo.2017.7998106