EMV-Charakterisierung von ICs (Die neuen Normen zurCharakterisierung der EMV integrierter Schaltungen)

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Roland Jungreithmair

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Originalsprachedeutsch
Seiten (von - bis)35-37
FachzeitschriftTest-Kompendium
Jahrgang2003
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

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