Electromagnetic Immunity: System- versus Chip-Level

Bernd Deutschmann, Gunter Winkler, Timm Ostermann, Kurt Lamedschwandner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelEMC Europe, International Symposium on Electromagnetic Compatibility / Vol. 2
ErscheinungsortEindhoven
Herausgeber (Verlag)Technische Universiteit Eindhoven
Seiten843-848
ISBN (Print)90-6144-990-1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
VeranstaltungInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2004 - Eindhoven, Niederlande
Dauer: 6 Sept. 200410 Sept. 2004

Konferenz

KonferenzInternational Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/GebietNiederlande
OrtEindhoven
Zeitraum6/09/0410/09/04

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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