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Electrically detected magnetic resonance of carbon dangling bonds at the Si-face 4H-SiC/SiO2 interface
G. Gruber*, J. Cottom, R. Meszaros, M. Koch, G. Pobegen, T. Aichinger, D. Peters, P. Hadley
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung