Electrical Capacitance Tomography using Bayesian Inference

Colin Fox, Daniel Watzenig

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelElectronics New Zealand Conference
Herausgeber (Verlag).
Seiten13-18
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungElectronics New Zealand Conference - Auckland, Neuseeland
Dauer: 24 Nov. 200825 Nov. 2008

Konferenz

KonferenzElectronics New Zealand Conference
Land/GebietNeuseeland
OrtAuckland
Zeitraum24/11/0825/11/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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