Einfluss der Oberflächenrauhigkeit auf das normale spektrale Emissionsvermögen von Kupfer und Silber bei einer Wellenlänge von 684.5 nm bei Pulsheizung in die flüssige Phase

Claus Cagran, Gernot Pottlacher

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalsprachedeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 23 Sep 2002
Veranstaltung52. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Leoben (Österreich)
Dauer: 1 Sep 200226 Sep 2002

Konferenz

Konferenz52. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
OrtLeoben (Österreich)
Zeitraum1/09/0226/09/02

Dies zitieren

Einfluss der Oberflächenrauhigkeit auf das normale spektrale Emissionsvermögen von Kupfer und Silber bei einer Wellenlänge von 684.5 nm bei Pulsheizung in die flüssige Phase. / Cagran, Claus; Pottlacher, Gernot.

2002. 52. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft, Leoben (Österreich), .

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

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TY - CONF

T1 - Einfluss der Oberflächenrauhigkeit auf das normale spektrale Emissionsvermögen von Kupfer und Silber bei einer Wellenlänge von 684.5 nm bei Pulsheizung in die flüssige Phase

AU - Cagran, Claus

AU - Pottlacher, Gernot

PY - 2002/9/23

Y1 - 2002/9/23

M3 - (Altdaten) Vortrag oder Präsentation

ER -