EFTEM at high magnification: Principles and practical applications

Werner Grogger*, Kannan M. Krishnan, Ferdinand Hofer

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)72-73
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang8
AusgabenummerSUPPL. 2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 20 Nov. 2002

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