EFTEM and EELS analysis of a Pt/NiO interface

Werner Grogger, Ferdinand Hofer*, Bernd Kraus, Irmgard Rom, Werner Sitte, Peter Warbichler

*Korrespondierende/r Autor/in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikel

Fingerprint

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Chemische Bestandteile