Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis

Johannes Grinschgl, Armin Krieg, Christian Steger, Reinhold Weiß, Holger Bock, Josef Haid

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
Titel25th IEEE International SOC Conference (SOCC)
Herausgeber (Verlag).
Seiten277-282
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
Veranstaltung25th IEEE International SOC Conference (SOCC) - Niagara Falls, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 12 Sep 201214 Sep 2012

Konferenz

Konferenz25th IEEE International SOC Conference (SOCC)
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtNiagara Falls
Zeitraum12/09/1214/09/12

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Experimental
  • Application

Dies zitieren

Grinschgl, J., Krieg, A., Steger, C., Weiß, R., Bock, H., & Haid, J. (2012). Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis. in 25th IEEE International SOC Conference (SOCC) (S. 277-282). ..

Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis. / Grinschgl, Johannes; Krieg, Armin; Steger, Christian; Weiß, Reinhold; Bock, Holger; Haid, Josef.

25th IEEE International SOC Conference (SOCC). ., 2012. S. 277-282.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Grinschgl, J, Krieg, A, Steger, C, Weiß, R, Bock, H & Haid, J 2012, Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis. in 25th IEEE International SOC Conference (SOCC). ., S. 277-282, Niagara Falls, USA / Vereinigte Staaten, 12/09/12.
Grinschgl J, Krieg A, Steger C, Weiß R, Bock H, Haid J. Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis. in 25th IEEE International SOC Conference (SOCC). . 2012. S. 277-282
Grinschgl, Johannes ; Krieg, Armin ; Steger, Christian ; Weiß, Reinhold ; Bock, Holger ; Haid, Josef. / Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis. 25th IEEE International SOC Conference (SOCC). ., 2012. S. 277-282
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TY - GEN

T1 - Efficient Fault Emulation using Automatic Pre-Injection Memory Access Analysis

AU - Grinschgl, Johannes

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PY - 2012

Y1 - 2012

M3 - Conference contribution

SP - 277

EP - 282

BT - 25th IEEE International SOC Conference (SOCC)

PB - .

ER -