| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 35-38 |
| Fachzeitschrift | Electron Optics Bulletin |
| Jahrgang | 126 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1989 |
Treatment code (Nähere Zuordnung)
- Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
- Experimental
EELS quantification of M edges by using oxidic standards
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