EELS Measurements and Ab-initio Calculations of the N-K Edge in TiN/VN Films Desposted on MgO Substrates

Boriana Raskova, Saso Sturm, Z. Zhang, Gerald Kothleitner, Kerstin Kutschej, Christian Mitterer, Petr Lazar, Josef Redinger, Raimund Poldloucky, Christina Scheu, Gerhard Dehm

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

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