EELS Measurements and Ab-initio Calculations of the N-K Edge in TiN/VN Films Desposted on MgO Substrates

Boriana Raskova, Saso Sturm, Z. Zhang, Gerald Kothleitner, Kerstin Kutschej, Christian Mitterer, Petr Lazar, Josef Redinger, Raimund Poldloucky, Christina Scheu, Gerhard Dehm

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelMaterials Science
ErscheinungsortWien
Herausgeber (Verlag)Facultas
Seiten285-286
ISBN (Print)978-3-85125-062-6
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Graz, Österreich
Dauer: 30 Aug 20094 Sep 2009

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum30/08/094/09/09

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Projekte

Nanoanalysis using transmission electron microscopy

1/01/04 → …

Projekt: Arbeitsgebiet

Dieses zitieren

Raskova, B., Sturm, S., Zhang, Z., Kothleitner, G., Kutschej, K., Mitterer, C., ... Dehm, G. (2009). EELS Measurements and Ab-initio Calculations of the N-K Edge in TiN/VN Films Desposted on MgO Substrates. in Materials Science (S. 285-286). Wien: Facultas. https://doi.org/10.3217/978-3-85125-062-6-515