EELS and EDX spectroscopy for the quantitative analysis of hard metals

Lukas Konrad, Martina Lattemann, Kevin Jorissen, John Rehr, Johanna Kraxner, Daniel Knez, Angelina Orthacker, Werner Grogger, Gerald Kothleitner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelMultinational Congress on Microscopy
Herausgeber (Verlag).
SeitenPO-273-280-282
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
VeranstaltungMultinational Congress on Microscopy - Eger, Ungarn
Dauer: 23 Aug 201528 Aug 2015

Konferenz

KonferenzMultinational Congress on Microscopy
LandUngarn
OrtEger
Zeitraum23/08/1528/08/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Konrad, L., Lattemann, M., Jorissen, K., Rehr, J., Kraxner, J., Knez, D., ... Kothleitner, G. (2015). EELS and EDX spectroscopy for the quantitative analysis of hard metals. in Multinational Congress on Microscopy (S. PO-273-280-282). ..