EEL and EDX spectroscopic sensitivity factors for the quantitative analysis of hard metals

Lukas Konrad, Martina Lattemann, Johanna Kraxner, Daniel Knez, Angelina Orthacker, Werner Grogger, Gerald Kothleitner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelASEM Workshop Advanced Electron Microscopy
Herausgeber (Verlag).
Seiten19-19
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
Veranstaltung5th ASEM Workshop - Graz, Österreich
Dauer: 7 Jun 20158 Jun 2015

Konferenz

Konferenz5th ASEM Workshop
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum7/06/158/06/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Dieses zitieren

Konrad, L., Lattemann, M., Kraxner, J., Knez, D., Orthacker, A., Grogger, W., & Kothleitner, G. (2015). EEL and EDX spectroscopic sensitivity factors for the quantitative analysis of hard metals. in ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy (S. 19-19). ..