EDX and EELS Chemical Analysis with a Probe Corrected STEM

Gerald Kothleitner, Stefanie Fladischer, Werner Grogger, Thomas Haber, Arno Meingast, Ferdinand Hofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelMicroscopy and Microanalysis
Herausgeber (Verlag).
Seiten972-973
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis 2012 - Phoenix, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 30 Juli 20123 Aug. 2012

Konferenz

KonferenzMicroscopy and Microanalysis 2012
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtPhoenix
Zeitraum30/07/123/08/12

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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