DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization

Julian Wagner, Miroslava Schaffer, Hartmuth Schröttner, Stefan Mitsche, Ilse Letofsky-Papst, Ch. Stotter, Christof Sommitsch

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelEuropean Microscopy Congress
ErscheinungsortBerlin
Herausgeber (Verlag)Springer
Seiten687-688
BandVolume1
ISBN (Print)978-3-540-85154-7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2008
VeranstaltungEuropean Microscopy Congress - Aachen, Deutschland
Dauer: 1 Sep 20085 Sep 2008

Publikationsreihe

NameInstrumentation and Methods
Herausgeber (Verlag)Springer

Konferenz

KonferenzEuropean Microscopy Congress
LandDeutschland
OrtAachen
Zeitraum1/09/085/09/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren