DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization

Julian Wagner; Miroslava Schaffer; Hartmuth Schröttner; Stefan Mitsche; Ilse Letofsky-Papst; Ch. Stotter; Christof Sommitsch

DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization

Julian Wagner, Miroslava Schaffer, Hartmuth Schröttner, Stefan Mitsche, Ilse Letofsky-Papst, Ch. Stotter, Christof Sommitsch

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	englisch
Titel	European Microscopy Congress
Erscheinungsort	Berlin
Herausgeber (Verlag)	Springer
Seiten	687-688
Band	Volume1
ISBN (Print)	978-3-540-85154-7
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2008
Veranstaltung	European Microscopy Congress - Aachen, Deutschland Dauer: 1 Sept. 2008 → 5 Sept. 2008

Publikationsreihe

Name	Instrumentation and Methods
Herausgeber (Verlag)	Springer

Konferenz

Konferenz	European Microscopy Congress
Land/Gebiet	Deutschland
Ort	Aachen
Zeitraum	1/09/08 → 5/09/08

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

14th European Microscopy Congress 2008
Hartmuth Schröttner (Teilnehmer/-in)
31 Aug. 2008 → 5 Sept. 2008
Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)

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TY - GEN

T1 - DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization

AU - Wagner, Julian

AU - Schaffer, Miroslava

AU - Schröttner, Hartmuth

AU - Mitsche, Stefan

AU - Letofsky-Papst, Ilse

AU - Stotter, Ch.

AU - Sommitsch, Christof

PY - 2008

Y1 - 2008

M3 - Conference paper

SN - 978-3-540-85154-7

VL - Volume1

T3 - Instrumentation and Methods

SP - 687

EP - 688

BT - European Microscopy Congress

PB - Springer

CY - Berlin

T2 - European Microscopy Congress

Y2 - 1 September 2008 through 5 September 2008

ER -

DualBeam FIB application of 3D EDXS for superalloy δ-phase characterization

Publikationsreihe

Konferenz

Treatment code (Nähere Zuordnung)

Aktivitäten

14th European Microscopy Congress 2008

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