DualBeam and analytical electron microscopy - applications in materials science

Michael Rogers, Gerald Kothleitner, Bernhard Schaffer

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 24 Apr 2006
Veranstaltung2nd FEI FIB & DualBeam Userclub Meeting - Eindhoven, Niederlande
Dauer: 24 Apr 200626 Apr 2006

Konferenz

Konferenz2nd FEI FIB & DualBeam Userclub Meeting
LandNiederlande
OrtEindhoven
Zeitraum24/04/0626/04/06

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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