DPI-Testboard for Analog-to-Digital Converters

Titel in Übersetzung: DPI-Testboard für Analog-Digital-Konverter

Michael Fuchs, Patrick Rosenberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Abstract

Immer mehr moderne Geräte verfügen über eine Vielzahl von Analog-Digital-Konvertern (ADCs). Um die Robustheit dieser ADCs gegenüber leitungsgeführten, elektromagnetischen Störungen zu bestimmen gibt es bisher noch keine eindeutigen Testmethoden. Diese Arbeit präsentiert ein Testboard für Störeinkopplungen auf Basis der Methode der Direct-Power-Injection (DPI). Die definierten Fehlerkriterien und das Test-Setup bieten eine Basis für eine zukünftige Standadisierung von Robustheits-Untersuchungen an ADCs.
Originalspracheenglisch
Titel15. EMV-Fachtagung
Redakteure/-innenGunter Winkler
ErscheinungsortWien
Herausgeber (Verlag)Österreichischer Verband für Elektrotechnik
Seiten20
Seitenumfang1
Band87
ISBN (Print)3-85133-093-5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 26 Apr 2017

Publikationsreihe

NameOVE Schriftenreihe
Band87

Schlagwörter

  • EMV
  • EMV Fachtagung 2017
  • ADC
  • DPI
  • EMC

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