Dielectric Response Analysis and PD Testing for Condition Assessment of HV Bushings

Michael Krüger, Maik Koch, Gunther Kopp, Hans Michael Muhr

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
TitelCMD
Herausgeber (Verlag).
Seiten101-104
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungInternational Conference on Condition Monitoring and Diagnosis - Tokyo, Japan
Dauer: 6 Sep 201010 Sep 2010

Konferenz

KonferenzInternational Conference on Condition Monitoring and Diagnosis
LandJapan
OrtTokyo
Zeitraum6/09/1010/09/10

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