Developing a universal exchange format for near-field scan data

John Shepherd*, Atsushi Nakamura, Frederic Lafon, Etienne Sicard, Mohamed Ramdani, David Pommerenke, Giorgi Muchaidze, Sebastien Serpaud

*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Abstract

Near-field scan measurements and simulations generate a large amount of data. The format of the data is closely linked to the supplier of the acquisition or simulation software, rendering extremely difficult its exchange between suppliers, customers, EDA tool vendors, academics, etc. The paper describes how a universal exchange format for near-field scan data has been developed. The format caters for various coordinate systems and is suited to emission and immunity testing both in the frequency and time domains.

Originalspracheenglisch
Titel2009 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC 2009
Seiten177-182
Seitenumfang6
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez. 2009
Extern publiziertJa
Veranstaltung2009 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2009 - Austin, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 17 Aug. 200921 Aug. 2009

Publikationsreihe

NameIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
ISSN (Print)1077-4076

Konferenz

Konferenz2009 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtAustin
Zeitraum17/08/0921/08/09

ASJC Scopus subject areas

  • Physik der kondensierten Materie
  • Elektrotechnik und Elektronik

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