Detection of crystel lattice defects in microranges of copper by X-ray interferences

Herwig Horn, Hanns Waltinger, Siegfried Däbritz

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)487-492
FachzeitschriftJournal of Analytical Atomic Spectrometry
Jahrgang14
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999

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  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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