Design and theoretical comparison of input ESD devices in 180 nm CMOS with focus on low capacitance

Titel in Übersetzung: Design und theoretischer Vergleich von ESD-Schutzstrukturen in 180 nm CMOS mit Schwerpunkt auf geringen Eingangskapazitäten

Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth, Patrick Schrey, Bernd Deutschmann

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

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