Darstellung der TEM-Zellen und der Surface Scan Messmethode zur Untersuchung des Einflusses von On-Chip Decoupling Kapazitäten auf die Störemission von Integrierten Schaltungen

Timm Ostermann, Bernd Deutschmann, D. Schneider, R. Jungreithmair

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalsprachedeutsch
TitelITG-Workshop Testmethods and Reliability of Circuits and Systems
Herausgeber (Verlag).
Seiten66-69
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003
VeranstaltungITG-Workshop Testmethods and Reliability of Circuits and Systems - Timmendorfer Strand, Deutschland
Dauer: 23 Mär 200325 Mär 2003

Konferenz

KonferenzITG-Workshop Testmethods and Reliability of Circuits and Systems
LandDeutschland
OrtTimmendorfer Strand
Zeitraum23/03/0325/03/03

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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