Correlative In-Situ Analysis by Combination of AFM, SEM, and FIB

C. Schwalb, S. Hummel, P. Frank, Jürgen Sattelkow, Robert Winkler, G.E. Fantner, Harald Plank

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Originalspracheenglisch
TitelWorkshop Handbook:Program & Abstracts
Seiten28
PublikationsstatusVeröffentlicht - Apr 2019
Veranstaltung9th ASEM Workshop for Advanced Electron Microscopy - TU Graz, Graz, Österreich
Dauer: 25 Apr 201926 Apr 2019

Workshop

Workshop9th ASEM Workshop for Advanced Electron Microscopy
KurztitelASEM Workshop 2019
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum25/04/1926/04/19

ASJC Scopus subject areas

  • !!Materials Science(all)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Schwalb, C., Hummel, S., Frank, P., Sattelkow, J., Winkler, R., Fantner, G. E., & Plank, H. (2019). Correlative In-Situ Analysis by Combination of AFM, SEM, and FIB. in Workshop Handbook:Program & Abstracts (S. 28)