Correlation between systemlevel robustness and TLP results of ESD devices

Bernd Deutschmann, Filippo Magrini, Y. Cao, M. Mayerhofer

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInternational Electrostatic Discharge Workshop
Herausgeber (Verlag).
Seiten---
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungInternational Electrostatic Discharge Workshop - Lake Tahoe, CA, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 16 Mai 201119 Mai 2011

Konferenz

KonferenzInternational Electrostatic Discharge Workshop
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtLake Tahoe, CA
Zeitraum16/05/1119/05/11

Fields of Expertise

  • Sonstiges

Dieses zitieren

Deutschmann, B., Magrini, F., Cao, Y., & Mayerhofer, M. (2011). Correlation between systemlevel robustness and TLP results of ESD devices. in International Electrostatic Discharge Workshop (S. ---). ..