Correlation between sputter deposition parameters and I-V characteristics in double-barrier memristive devices

Finn Zahari, Felix Schichting, Julian Strobel, Sven Dirkmann, Julia Cipo, Sven Gauter, Jan Trieschmann, Richard Marquardt, Georg Haberfehlner, Gerald Kothleitner, Lorenz Kienle, Thomas Mussenbrock, Martin Ziegler, Holger Kersten, Hermann Kohlstedt

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Originalspracheenglisch
Seiten (von - bis)061203
Seitenumfang11
FachzeitschriftJournal of Vacuum Science & Technology / B
Jahrgang2019
Ausgabenummer37
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019

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