Coordinate measurement with nano-metric resolution from multiple SEM images

Reinhard Danzl, Hartmuth Schröttner, Stefan Scherer, Franz Helmli

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
VeranstaltungEuropean Microscopy Congress - Manchester
Dauer: 16 Sep 201221 Sep 2012

Konferenz

KonferenzEuropean Microscopy Congress
OrtManchester
Zeitraum16/09/1221/09/12

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Theoretical
  • Experimental

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