Comparison of Measurement Results and Simulations Based on Finite Element Method for an Electrical Capacitance Tomography System

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

    Originalspracheenglisch
    TitelISA/IEEE Sensors for Industry Conference
    Herausgeber (Verlag).
    Seiten109-115
    ISBN (Print)0-7803-8143-2
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
    VeranstaltungISA/IEEE Sensors for Industry Conference - New Orleans, USA / Vereinigte Staaten
    Dauer: 27 Jan 200429 Jan 2004

    Konferenz

    KonferenzISA/IEEE Sensors for Industry Conference
    LandUSA / Vereinigte Staaten
    OrtNew Orleans
    Zeitraum27/01/0429/01/04

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