Characterizing ESD stress currents in human wearable devices

Abhishek Patnaik, Runbing Hua, David Pommerenke

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Abstract

Currents induced on an I/O of a human wearable device IC are predicted using a test IC as a wearable device capable of transient event detection and level sensing. ESD on this pseudo wearable device using the test IC is characterized for different test scenarios and compared to the prediction.

Originalspracheenglisch
TitelElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2017, EOS/ESD 2017
Herausgeber (Verlag)ESD Association
ISBN (elektronisch)1585372935
PublikationsstatusVeröffentlicht - 18 Okt 2017
Extern publiziertJa
Veranstaltung39th Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2017 - Tucson, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 10 Sep 201714 Sep 2017

Publikationsreihe

NameElectrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings
ISSN (Print)0739-5159

Konferenz

Konferenz39th Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, EOS/ESD 2017
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtTucson
Zeitraum10/09/1714/09/17

ASJC Scopus subject areas

  • !!Electrical and Electronic Engineering

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