Characterization of the production process of nanoimprinted organic devices by analytical TEM

Johanna Kraxner, Ilse Letofsky-Papst, T. Rothländer, P. Hütter, B. Stadlober, Werner Grogger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelInstrumentation and Methods; Materials Science
Herausgeber (Verlag).
Seiten434-435
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
VeranstaltungMicroscopy Conference 2013 - Regensburg, Deutschland
Dauer: 25 Aug 201330 Aug 2013

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference 2013
KurztitelMC
LandDeutschland
OrtRegensburg
Zeitraum25/08/1330/08/13

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

Dieses zitieren

Kraxner, J., Letofsky-Papst, I., Rothländer, T., Hütter, P., Stadlober, B., & Grogger, W. (2013). Characterization of the production process of nanoimprinted organic devices by analytical TEM. in Instrumentation and Methods; Materials Science (S. 434-435). ..