Characterization of the EME of Integrated Circuits with the Help of the IEC Standard 61967

Timm Ostermann, Bernd Deutschmann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelDigest of papers
Herausgeber (Verlag).
Seiten269-274
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003
VeranstaltungEuropean Test Workshop - Maastricht, Niederlande
Dauer: 25 Mai 200328 Mai 2003

Konferenz

KonferenzEuropean Test Workshop
LandNiederlande
OrtMaastricht
Zeitraum25/05/0328/05/03

Fields of Expertise

  • Sonstiges

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