Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements

Thomas Bodner, Andreas Behrendt, Emil Prax, Frank Wiesbrock, Franz Stelzer

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungEuropean Polymer Congress: EPF '09 - Graz, Österreich
Dauer: 12 Jul 200917 Jul 2009

Konferenz

KonferenzEuropean Polymer Congress
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum12/07/0917/07/09

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Bodner, T., Behrendt, A., Prax, E., Wiesbrock, F., & Stelzer, F. (2009). Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements. Postersitzung präsentiert bei European Polymer Congress, Graz, Österreich.

Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements. / Bodner, Thomas; Behrendt, Andreas; Prax, Emil; Wiesbrock, Frank; Stelzer, Franz.

2009. Postersitzung präsentiert bei European Polymer Congress, Graz, Österreich.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Bodner, T, Behrendt, A, Prax, E, Wiesbrock, F & Stelzer, F 2009, 'Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements' European Polymer Congress, Graz, Österreich, 12/07/09 - 17/07/09, .
Bodner T, Behrendt A, Prax E, Wiesbrock F, Stelzer F. Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements. 2009. Postersitzung präsentiert bei European Polymer Congress, Graz, Österreich.
Bodner, Thomas ; Behrendt, Andreas ; Prax, Emil ; Wiesbrock, Frank ; Stelzer, Franz. / Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements. Postersitzung präsentiert bei European Polymer Congress, Graz, Österreich.
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TY - CONF

T1 - Characterization of silicon wafer surfaces by FTIR-, XPS-spectroscopy and contact angle measurements

AU - Bodner, Thomas

AU - Behrendt, Andreas

AU - Prax, Emil

AU - Wiesbrock, Frank

AU - Stelzer, Franz

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Poster

ER -