Characterization of Organic/Inorganic Interfaces by X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

Alfred Neuhold, Stefanie Fladischer, Markus Neuschitzer, Armin Moser, Ingo Salzmann, Elke Kraker, Bernhard Lamprecht, Werner Grogger, Roland Resel

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalsprachedeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 4 Okt 2011
Veranstaltung8th Autumn School on X-ray Scattering from Surfaces and Thin Layers - Smolenice, Slowakei
Dauer: 4 Okt 20117 Okt 2011

Konferenz

Konferenz8th Autumn School on X-ray Scattering from Surfaces and Thin Layers
OrtSmolenice, Slowakei
Zeitraum4/10/117/10/11

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Application
  • Experimental

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