Characterization of metal nanostructures trapped in a porousified silicon wafer

Mihaela Albu, Meltem Sezen, Toni Uusimäki, Petra Granitzer, Gerald Kothleitner, Peter Pölt, Klemens Rumpf

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 9 Mai 2011
VeranstaltungE-MRS Spring Meeting 2011 - Nizza, Frankreich
Dauer: 9 Mai 201113 Mai 2011

Konferenz

KonferenzE-MRS Spring Meeting 2011
LandFrankreich
OrtNizza
Zeitraum9/05/1113/05/11

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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