Characterization of copper oxides formed by thermal and plasma oxidation using linear sweep voltammetry, galvanostatic reduction and XPS

M A Hossain, J R Parga, H McWhinney, Robert Schennach, David L Cocke

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder Präsentation

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 28 Okt 2001
Veranstaltung48th International Symposium of the American Vacuum Society - San Francisco, CA, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 28 Okt 20012 Nov 2001

Konferenz

Konferenz48th International Symposium of the American Vacuum Society
LandUSA / Vereinigte Staaten
OrtSan Francisco, CA
Zeitraum28/10/012/11/01

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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