Characterization and Handling of Low-Cost Micro-Architectural Signatures in MPSoCs

Armin Krieg, Johannes Grinschgl, Christian Steger, Reinhold Weiß, Andreas Genser, Holger Bock, Josef Haid

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
Titel17th IEEE European Test Symposium (ETS)
Herausgeber (Verlag).
Seiten62-67
ISBN (Print)978-1-4673-0697-3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
Veranstaltung17th IEEE European Test Symposium (ETS) - , Frankreich
Dauer: 28 Mai 20121 Jun 2012

Konferenz

Konferenz17th IEEE European Test Symposium (ETS)
LandFrankreich
Zeitraum28/05/121/06/12

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application
  • Experimental

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