Characterization and compensation of environmental magnetic fields for a monochromatized TEM

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalspracheenglisch
TitelProceedings EMC / Vol. 1, Instrumentation & Methodology
Herausgeber (Verlag).
Seiten271-272
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004
Veranstaltung13th European Microscopy Congress - Antwerpen / Belgien
Dauer: 22 Aug. 200427 Aug. 2004

Konferenz

Konferenz13th European Microscopy Congress
OrtAntwerpen / Belgien
Zeitraum22/08/0427/08/04

Dieses zitieren