Characterisation of typical chemical background noise in electrospray ionisation LC-MS.

Xinghua Guo, Andries P. Bruins, Thomas R. Covey

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
VeranstaltungThe 53th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics - San Antonio, TX, USA
Dauer: 5 Jun 20059 Jun 2005

Konferenz

KonferenzThe 53th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics
OrtSan Antonio, TX, USA
Zeitraum5/06/059/06/05

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

Projekte

  • 1 Abschlussdatum

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Guo, X., Bruins, A. P., & Covey, T. R. (2005). Characterisation of typical chemical background noise in electrospray ionisation LC-MS.. Postersitzung präsentiert bei The 53th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics, San Antonio, TX, USA, .