Characterisation of typical chemical background noise in electrospray ionisation LC-MS.

Xinghua Guo, Andries P. Bruins, Thomas R. Covey

Publikation: KonferenzbeitragPoster

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
VeranstaltungThe 53th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics - San Antonio, TX, USA
Dauer: 5 Jun 20059 Jun 2005

Konferenz

KonferenzThe 53th ASMS Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics
OrtSan Antonio, TX, USA
Zeitraum5/06/059/06/05

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental

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