| Originalsprache | englisch |
|---|---|
| Titel | 13th European Microscopy Congress |
| Herausgeber (Verlag) | . |
| Seiten | 159-160 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2004 |
Channeling contrast by Focused Ion Beam and EBSD - two complementary techniques
Mario Schmied, Stefan Mitsche
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