Channeling contrast by Focused Ion Beam and EBSD - two complementary techniques

Mario Schmied, Stefan Mitsche

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem Konferenzband

Originalspracheenglisch
Titel13th European Microscopy Congress
Herausgeber (Verlag).
Seiten159-160
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2004

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