Beyond Current SEM – AFM Solutions: A Highly Flexible in-situ AFM for Correlated Microscopy

Robert Winkler, M.J. Cordill, J. Kreith, T. Strunz, G.E. Fantner, E.J. Fantner, Harald Plank

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 7 Mai 2015
Veranstaltung5th ASEM Workshop - Graz, Österreich
Dauer: 7 Jun 20158 Jun 2015

Konferenz

Konferenz5th ASEM Workshop
LandÖsterreich
OrtGraz
Zeitraum7/06/158/06/15

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

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Dieses zitieren

Winkler, R., Cordill, M. J., Kreith, J., Strunz, T., Fantner, G. E., Fantner, E. J., & Plank, H. (2015). Beyond Current SEM – AFM Solutions: A Highly Flexible in-situ AFM for Correlated Microscopy. 5th ASEM Workshop, Graz, Österreich.