Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazitäten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

Originalsprachedeutsch
TitelMesstechnisches Symposium
Herausgeber (Verlag).
Seiten103-114
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
VeranstaltungMesstechnisches Symposium -
Dauer: 20 Sep. 200722 Sep. 2007

Konferenz

KonferenzMesstechnisches Symposium
Zeitraum20/09/0722/09/07

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)

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