Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazitäten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	deutsch
Titel	Messtechnisches Symposium
Herausgeber (Verlag)	.
Seiten	103-114
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2007
Veranstaltung	Messtechnisches Symposium - Dauer: 20 Sept. 2007 → 22 Sept. 2007

Konferenz	Messtechnisches Symposium
Zeitraum	20/09/07 → 22/09/07

Treatment code (Nähere Zuordnung)

@inproceedings{8007f853a19c44b7bb2d535a47c9f3a3,

title = "Bayes'sche Inferenz elektrischer Kapazit{\"a}ten in der nichtinvasiven Prozessmesstechnik",

author = "Daniel Watzenig",

year = "2007",

language = "deutsch",

pages = "103--114",

booktitle = "Messtechnisches Symposium",

publisher = ".",

note = "Messtechnisches Symposium ; Conference date: 20-09-2007 Through 22-09-2007",

}